本課程為因應半導體產線導入智慧製造與自動光學檢測（AOI）智能化之趨勢，聚焦於AI於AOI瑕疵分類與物件偵測應用的實務訓練。近年來，IC封裝、PCB製造與晶圓加工等製程中，越來越多廠商導入深度學習模型協助提升AOI設備的辨識準確率與處理彈性。傳統規則式AOI系統難以因應瑕疵樣態多樣化與視覺干擾問題，因此，深度學習導向的瑕疵檢測技術已成為重要解方。
本課程設計結合實務資料集（Kaggle公開的PCB Defects與PCB Defect Dataset），分別對應瑕疵分類與瑕疵定位兩大應用情境，並納入模型部署至雲端的操作流程，讓學員能實際建立可重用的AI服務模組。課程四大模組包含：CNN原理與AOI應用導論、瑕疵分類模型建構實作、YOLO物件偵測模型介紹與推論流程、瑕疵偵測模型訓練與雲端部署。
課程特色為「技術基礎＋實作演練＋雲端部署」三階段教學，學員可於短時間內掌握AI AOI系統基礎並可實際操作應用。
原價：10000優惠價：3,000元
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